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電子產(chǎn)品硬件測(cè)試研究論文
摘要：隨著信息時(shí)代的發(fā)展，人們對(duì)電子產(chǎn)品的硬件質(zhì)量的要求日益提升。近年來(lái)智能化產(chǎn)品的普及，更是使得越來(lái)越多的企業(yè)在研發(fā)階段對(duì)硬件測(cè)試人員的需求已經(jīng)超過(guò)了軟件開(kāi)發(fā)人員的需求，因此制造企業(yè)開(kāi)始注重產(chǎn)品的硬件測(cè)試環(huán)節(jié)。硬件測(cè)試的目的，不僅僅是為了發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，更重要的是對(duì)問(wèn)題分析和記錄，尋求合適的解決問(wèn)題的方法，以期在今后避免這類問(wèn)題的發(fā)生，并且繼續(xù)優(yōu)化電子產(chǎn)品的性能。
關(guān)鍵詞：電子產(chǎn)品；硬件測(cè)試；測(cè)試分類
對(duì)硬件產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，尤其是針對(duì)核心環(huán)節(jié)或零部件，或是之前的測(cè)試中出現(xiàn)過(guò)的類似情況，測(cè)試階段需要進(jìn)行反復(fù)重點(diǎn)排查，對(duì)異常狀況或故障進(jìn)行及時(shí)分析，排除因人為因素產(chǎn)生的誤差或錯(cuò)誤，測(cè)試的全過(guò)程中，應(yīng)嚴(yán)格遵循人、機(jī)、料、法、環(huán)、測(cè)的六字要訣，提升測(cè)試的可靠性。
一、測(cè)試歸類
�。�1）性能測(cè)試。顧名思義，即對(duì)電子產(chǎn)品或設(shè)備的常溫性能（如電性能、光性能、色度學(xué)指標(biāo)、聲學(xué)指標(biāo)等），屬于最常規(guī)的測(cè)試，是驗(yàn)證電子產(chǎn)品質(zhì)量?jī)?yōu)劣的重要指標(biāo)。通常在穩(wěn)定情況下進(jìn)行性能測(cè)試，檢測(cè)產(chǎn)品允許的使用范圍、電源適應(yīng)性、功耗等，明確產(chǎn)品安全運(yùn)行的條件，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的缺陷，后續(xù)通過(guò)改進(jìn)結(jié)構(gòu)或用料優(yōu)化產(chǎn)品的性能。
�。�2）電磁兼容。電磁兼容（EMC），指的是對(duì)電子產(chǎn)品在電磁場(chǎng)方面干擾大小（EMI）和抗干擾能力（EMS）的綜合評(píng)定，是產(chǎn)品質(zhì)量最重要的指標(biāo)之一，電磁兼容的測(cè)量由測(cè)試場(chǎng)地和測(cè)試儀器組成。它包括電磁干擾和電磁敏感度兩部分，電磁干擾測(cè)試是測(cè)量被測(cè)設(shè)備在正常工作狀態(tài)下產(chǎn)生并向外發(fā)射的電磁波信號(hào)的大小來(lái)反應(yīng)對(duì)周圍電子設(shè)備干擾的強(qiáng)弱。電磁敏感度測(cè)試是測(cè)量被測(cè)設(shè)備對(duì)電磁騷擾的抗干擾的能力強(qiáng)弱。電磁干擾主要包括輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射。電磁兼容測(cè)試的目的是為了驗(yàn)證電子產(chǎn)品在面對(duì)復(fù)雜的電磁環(huán)境時(shí)，阻擋和規(guī)避其他電磁環(huán)境對(duì)其正常使用的影響。本質(zhì)上是“設(shè)備和系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力”。
�。�3）環(huán)境試驗(yàn)。電子產(chǎn)品的使用經(jīng)常會(huì)面臨極端惡劣的環(huán)境，對(duì)一些關(guān)鍵領(lǐng)域的電氣設(shè)備來(lái)說(shuō)，在這些嚴(yán)酷的環(huán)境下能否正常使用至關(guān)重要。常規(guī)的環(huán)境試驗(yàn)包括：儲(chǔ)存溫度變化、高低溫工作、潮熱、鹽霧、粉塵、防水等。環(huán)境試驗(yàn)的目的是為了保證產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間，在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或貯存的環(huán)境下，保持功能可靠性而進(jìn)行的活動(dòng)。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用，以評(píng)價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用，運(yùn)輸和貯存的環(huán)境條件下的性能，并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機(jī)理。
（4）可靠性試驗(yàn)。與環(huán)境試驗(yàn)相類似，可靠性測(cè)試也是為了評(píng)估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi)，在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進(jìn)行的活動(dòng)。不同的是，可靠性涉及的試驗(yàn)種類更多，環(huán)境更復(fù)雜，如振動(dòng)、跌落、高壓靜電、壓力、拉力、壽命、水平針焰、垂直燃燒、灼熱絲等。影響硬件可靠性試驗(yàn)的因素很多，元件失效、設(shè)計(jì)不當(dāng)、工藝問(wèn)題都可能會(huì)極大地影響試驗(yàn)的結(jié)果。
�。�5）安全。安全是電子產(chǎn)品測(cè)試中最重要的測(cè)試之一，很多研發(fā)企業(yè)有專門的安規(guī)工程師負(fù)責(zé)產(chǎn)品的安全測(cè)試和評(píng)估。安全試驗(yàn)通常為檢測(cè)電氣設(shè)備、元器件和絕緣工、器具性能而進(jìn)行的一系列相關(guān)試驗(yàn)。只有在涉及安全時(shí)才進(jìn)行此項(xiàng)試驗(yàn)，安全試驗(yàn)不要求對(duì)產(chǎn)品的性能作出評(píng)判。安全試驗(yàn)通常有：絕緣電阻、接地電阻、漏電流、抗電強(qiáng)度等。安全試驗(yàn)的重要性不言而喻，以電力系統(tǒng)為例，電力系統(tǒng)包括眾多的電氣設(shè)備，有些電氣設(shè)備的故障甚至?xí){到整個(gè)系統(tǒng)的安全供電。電力生產(chǎn)的實(shí)踐證明，對(duì)電氣設(shè)備按規(guī)定開(kāi)展檢測(cè)試驗(yàn)工作，是防患于未然，保證電力系統(tǒng)安全、經(jīng)濟(jì)運(yùn)行的重要措施之一。
二、測(cè)試級(jí)別
受限測(cè)試資源和測(cè)試時(shí)間，按照測(cè)試內(nèi)容的重要性進(jìn)行分類，先測(cè)試重要性高的條目。客戶等級(jí)不同，對(duì)于測(cè)試的要求也不同。需要測(cè)試的條目不一樣，甚至同一條目的測(cè)試結(jié)果要求也不一樣。
（一）單元測(cè)試
單元測(cè)試的是一個(gè)電子產(chǎn)品中最小的單元，對(duì)模塊中的重要設(shè)計(jì)路徑進(jìn)行測(cè)試。單元測(cè)試的任務(wù)是：
1、接口的測(cè)試。
2、對(duì)模塊內(nèi)部的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試。
3、對(duì)執(zhí)行通路進(jìn)行測(cè)試。
�。ǘ┘蓽y(cè)試
集成測(cè)試是在單元測(cè)試的前提下進(jìn)行測(cè)試的，也稱為組裝測(cè)試。就是將進(jìn)行過(guò)單元測(cè)試的物品拼接起來(lái)，組成一個(gè)整體，測(cè)試他們的接口部位，在實(shí)際過(guò)程中就是將這些單元組合成整體，最后測(cè)試這些組件是否滿足要求。集成測(cè)試一定要在單元測(cè)試全部做好之后再進(jìn)行測(cè)試，不然就會(huì)對(duì)集成測(cè)試的效果造成很大的影響，加大代碼錯(cuò)誤。
�。ㄈ┫到y(tǒng)測(cè)試
系統(tǒng)測(cè)試是所有測(cè)試的最后一個(gè)步驟，也是最關(guān)鍵的一個(gè)步驟，將經(jīng)過(guò)集成測(cè)試的軟件組合起來(lái)成為一個(gè)這部分整體，與系統(tǒng)連接起來(lái)，在運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試，以此來(lái)保證產(chǎn)品的正常使用。
三、測(cè)試細(xì)節(jié)
�。�1）作為測(cè)試人員，我們需要理解設(shè)計(jì)的原理和關(guān)鍵技術(shù)，關(guān)注重要性能參數(shù)，但不是替換他們做設(shè)計(jì)工作，而是從研發(fā)的角度，考慮如何測(cè)試才能最好地保證產(chǎn)品質(zhì)量（準(zhǔn)確，可操作性，重復(fù)性，以及高效）。一款優(yōu)秀的電子產(chǎn)品，測(cè)試和研發(fā)是同等重要的。
�。�2）硬件產(chǎn)品的測(cè)試既需要精密的設(shè)備保障，又需要測(cè)試人員縝密的操作。人員應(yīng)在測(cè)試過(guò)程中規(guī)范測(cè)試方法和測(cè)試案例，獲得獨(dú)立權(quán)威的測(cè)試結(jié)果，保證產(chǎn)品質(zhì)量。尋求提高測(cè)試可操作性和可重復(fù)性，提升測(cè)試效率和質(zhì)量。推廣測(cè)試方法，推動(dòng)測(cè)試嚴(yán)謹(jǐn)規(guī)范。
�。�3）學(xué)習(xí)測(cè)試中有效控制誤差的方法，評(píng)估測(cè)試結(jié)果的不確定度，在有條件時(shí)應(yīng)進(jìn)行人員比對(duì)和機(jī)構(gòu)比對(duì)，使測(cè)試結(jié)果的誤差降到盡可能低的水平。
四、結(jié)語(yǔ)
信息時(shí)代，電子產(chǎn)品的發(fā)展瞬息萬(wàn)變，制造企業(yè)的發(fā)展也面臨越來(lái)越多的挑戰(zhàn)，一方面要面對(duì)越來(lái)越多同類型企業(yè)的強(qiáng)力競(jìng)爭(zhēng)，另一方面又要對(duì)成本、人員、產(chǎn)品、生產(chǎn)鏈進(jìn)行嚴(yán)格管控，不可謂壓力不大。但電子產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)終究會(huì)回歸本源——質(zhì)量的比拼，因此對(duì)電子產(chǎn)品的硬件環(huán)節(jié)進(jìn)行嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臏y(cè)試，既是企業(yè)對(duì)客戶對(duì)自身的一種負(fù)責(zé)，也為電子產(chǎn)品企業(yè)未來(lái)的發(fā)展定下基調(diào)、指明航向——質(zhì)量高于一切。
參考文獻(xiàn)
[1]黃艷敏.淺談電子產(chǎn)品的硬件測(cè)試技術(shù)[J].單片機(jī)與嵌入式系統(tǒng)應(yīng)用,2010(2):16-17.
[2]白玉林.電子產(chǎn)品的硬件設(shè)計(jì)的測(cè)試技術(shù)探究[J].工程技術(shù):全文版,2016(10):00289.
[3]蔣日輝.電子產(chǎn)品的硬件測(cè)試技術(shù)研究[J].電子測(cè)試,2016(14):118-119.
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