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2017年華北電力大學(xué)控制工程專碩考研大綱

發(fā)布時(shí)間:2017-06-21 編輯:張莉

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  004控制與計(jì)算機(jī)工程學(xué)院

  085210控制工程

  01. 控制理論及其在過(guò)程控制中的應(yīng)用

  02. 發(fā)電企業(yè)信息化與節(jié)能優(yōu)化技術(shù)

  03. 發(fā)電系統(tǒng)建模、仿真與優(yōu)化控制

  04. 清潔能源發(fā)電技術(shù)與系統(tǒng)

  05. 現(xiàn)代測(cè)控新技術(shù)與信息處理

  06. 故障診斷技術(shù)與應(yīng)用

  07. 網(wǎng)絡(luò)化控制技術(shù)與系統(tǒng)

  08. 控制工程管理、決策支持理論與方法

  09. 智能儀表與智能系統(tǒng)

  初試考試科目:

 、 101思想政治理論

  ② 204英語(yǔ)二

 、 302數(shù)學(xué)二

 、 841自動(dòng)控制原理或843微機(jī)原理及應(yīng)用

  復(fù)試科目:3選2

 、 過(guò)程控制

 、 計(jì)算機(jī)控制技術(shù)與系統(tǒng)

 、 熱工測(cè)量及儀表

  同等學(xué)力加試科目:

 、 信號(hào)與系統(tǒng)

 、 電子技術(shù)基礎(chǔ)

  841自動(dòng)控制原理考研大綱

  科目代碼:841

  科目名稱:自動(dòng)控制原理

  一、考試的總體要求

  熟練掌握經(jīng)典控制理論中控制系統(tǒng)的基本概念、數(shù)學(xué)模型和分析方法;掌握用時(shí)域分析、根軌跡分析法和頻率響應(yīng)分析法綜合連續(xù)線性定?刂葡到y(tǒng);掌握用描述函數(shù)、相平面圖分析非線性控制系統(tǒng);掌握離散系統(tǒng)的數(shù)學(xué)模型和分析方法;掌握現(xiàn)代控制理論狀態(tài)空間的基本概念和分析方法。

  二、考試的內(nèi)容

  1. 控制系統(tǒng)的基本概念、反饋控制系統(tǒng)的基本組成。開(kāi)環(huán)、閉環(huán)控制。

  2.數(shù)學(xué)模型:

  建立實(shí)際系統(tǒng)的數(shù)學(xué)模型。微分方程和傳遞函數(shù)的關(guān)系;由原始方程繪制方框圖;通過(guò)方框圖的簡(jiǎn)化求各種典型傳遞函數(shù)及相應(yīng)的微分方程。

  3.時(shí)域分析:

  一階、二階系統(tǒng)的暫態(tài)響應(yīng)。動(dòng)態(tài)分析及性能指標(biāo)求法。穩(wěn)定的概念、條件,用勞斯判據(jù)判定閉環(huán)穩(wěn)定性,確定特征根的分布;誤差、穩(wěn)態(tài)誤差的概念,典型給定輸入、擾動(dòng)輸入下(階躍、斜坡、拋物線)系統(tǒng)的穩(wěn)態(tài)誤差。

  4.根軌跡分析法:

  根軌跡的概念,參量根軌跡等價(jià)開(kāi)環(huán)傳遞函數(shù)的確定;180、0度根軌跡的判定;180、0度根軌跡的繪制;根軌跡定性分析(穩(wěn)定、不穩(wěn)定區(qū)間的確定,單調(diào)衰減、振蕩衰減區(qū)間的確定)。

  5.頻率響應(yīng)分析法:

  頻率特性的概念,諧波(正弦、余弦)輸入下系統(tǒng)的穩(wěn)態(tài)誤差;頻率特性曲線、伯德圖的繪制;由頻率特性穩(wěn)定判據(jù)判定閉環(huán)穩(wěn)定性,確定閉環(huán)極點(diǎn)的分布;穩(wěn)定裕量的概念、求法。

  6.線性控制系統(tǒng)的校正:

  常用校正裝置的類型;用頻率法在伯德圖上進(jìn)行超前、滯后校正來(lái)滿足性能指標(biāo)要求。

  7.非線性系統(tǒng)分析:

  非線性系統(tǒng)描述函數(shù)的概念,非線性系統(tǒng)描述函數(shù)分析(系統(tǒng)穩(wěn)定性,自振蕩、自振蕩穩(wěn)定性、自振頻率、自振振幅)。

  8.離散系統(tǒng)分析:

  離散系統(tǒng)求脈沖傳遞函數(shù)(階躍、斜坡、拋物線函數(shù)的Z變換);判定離散系統(tǒng)的閉環(huán)穩(wěn)定性(穩(wěn)定條件、穩(wěn)定判據(jù));求典型輸入(階躍、斜坡、拋物線)下的穩(wěn)態(tài)誤差。

  9.現(xiàn)代控制理論基礎(chǔ):

  建立系統(tǒng)的狀態(tài)空間模型并求取傳遞函數(shù);模擬結(jié)構(gòu)圖;狀態(tài)空間方程求解;能控性、能觀性;結(jié)構(gòu)分解與最小實(shí)現(xiàn);線性定常連續(xù)系統(tǒng)的離散化;用Lyapunov穩(wěn)定判據(jù)判斷系統(tǒng)的穩(wěn)定性;利用狀態(tài)反饋配置極點(diǎn);設(shè)計(jì)降維、全維狀態(tài)觀測(cè)器。

  考試試題主要測(cè)驗(yàn)考生對(duì)控制理論的基本知識(shí)、基礎(chǔ)理論和基本技能掌握的程度,以及運(yùn)用所學(xué)理論去分析、綜合控制系統(tǒng)的能力。試題中有用以測(cè)驗(yàn)考生靈活運(yùn)用所學(xué)知識(shí)分析、解決問(wèn)題能力的內(nèi)容。

  三、考試的題型

  均為分析、計(jì)算題,其中包括基本概念的內(nèi)容。

  843微機(jī)原理及應(yīng)用考研大綱

  科目代碼:843

  科目名稱:微機(jī)原理及應(yīng)用

  一、考試的總體要求

  掌握微型計(jì)算機(jī)的基本工作原理及相關(guān)的數(shù)學(xué)及數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ),靈活運(yùn)用所學(xué)的基礎(chǔ)知識(shí)與方法解決控制領(lǐng)域相關(guān)的計(jì)算機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)或主要功能模塊的分析與設(shè)計(jì)問(wèn)題。

  二、考試的內(nèi)容

  1.微型計(jì)算機(jī)的基本工作原理及其數(shù)學(xué)及電子技術(shù)基礎(chǔ)。包括典型微型計(jì)算機(jī)的基本結(jié)構(gòu)組成和工作原理,進(jìn)位計(jì)數(shù)制、二進(jìn)制編碼及運(yùn)算、BCD編碼、帶符號(hào)數(shù)表示,以及8086/8088微處理器的性能、內(nèi)部結(jié)構(gòu)單元、寄存器陣列、外部總線、存貯器組織和I/O端口、指令系統(tǒng)及中斷機(jī)制;

  2.結(jié)合常用算法的簡(jiǎn)單匯編語(yǔ)言程序分析/設(shè)計(jì)。包括匯編語(yǔ)言的基本概念、語(yǔ)法,以及順序、分支、循環(huán)等基本程序結(jié)構(gòu),基本程序框架和基本程序設(shè)計(jì)方法,以及簡(jiǎn)單應(yīng)用程序設(shè)計(jì);

  3.微型計(jì)算機(jī)主存儲(chǔ)器設(shè)計(jì)的原理、方法。包括根據(jù)譯碼電路原理圖分析地址空間分配方案、根據(jù)地址空間分配要求設(shè)計(jì)或完善譯碼邏輯,以及各種常用半導(dǎo)體存儲(chǔ)器如RAM、PROM、EPROM等的基本工作原理、特點(diǎn),常用外部存儲(chǔ)器如U盤(pán)、光盤(pán)、硬盤(pán)的基本工作原理、特點(diǎn);

  4.常用簡(jiǎn)單輸入/輸出接口電路的原理、分析與設(shè)計(jì)。包括無(wú)條件I/O接口電路、查詢式I/O接口電路、中斷式I/O接口電路的工作過(guò)程及原理分析、電路圖設(shè)計(jì),以及控制領(lǐng)域相關(guān)的簡(jiǎn)單應(yīng)用系統(tǒng)及工作程序設(shè)計(jì)/分析;

  5.通用可編程接口芯片的工作原理、應(yīng)用系統(tǒng)分析與設(shè)計(jì)。包括8255、8253、8250等接口芯片的工作模式選擇與設(shè)置,簡(jiǎn)單的接口電路原理圖及接口控制程序分析與設(shè)計(jì),以及通過(guò)簡(jiǎn)單的程序設(shè)計(jì)、電路設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)控制領(lǐng)域相關(guān)的基本功能操作,此外還涉及上述三種接口芯片的相關(guān)教學(xué)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容,例如8255的鍵盤(pán)與LED數(shù)碼管顯示器接口等;

  6.串行通信的原理、基本概念。包括全雙工、半雙工、單工通信模式,波特率、幀格式、RS232標(biāo)準(zhǔn)等。

  三、考試的題型

  簡(jiǎn)答題、計(jì)算題、電路原理圖分析/設(shè)計(jì)/補(bǔ)充完善,簡(jiǎn)單應(yīng)用程序設(shè)計(jì)、分析,軟硬件綜合設(shè)計(jì)。

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