硬盤軟故障處理方法

　　由于計(jì)算機(jī)硬盤存儲(chǔ)容量大，讀寫速度快，且安裝在一個(gè)密閉腔體內(nèi)，工作環(huán)境清潔、性能較穩(wěn)定、使用方便，因此，在微機(jī)中得到廣泛的應(yīng)用。但如果對(duì)硬盤使用不當(dāng)或感染病毒后，容易引發(fā)故障。

　　硬盤故障分為硬故障和軟故障兩大類，其中軟故障出現(xiàn)較頻繁。故障現(xiàn)象大都表現(xiàn)為硬盤不能自啟動(dòng)。當(dāng)硬盤出現(xiàn)軟故障時(shí)，采取行之有效的應(yīng)急處理很重要，下面介紹的只是相對(duì)于最常見的故障情況而進(jìn)行的檢查、處理步驟。

　　一、檢查 CMOS 設(shè)置及處理方法：

　　CMOS 系統(tǒng)設(shè)置錯(cuò)誤所引起的硬盤軟故障，現(xiàn)象表現(xiàn)不一。有的開機(jī)后屏幕無顯示，有的僅顯示一個(gè)死光標(biāo)，有的顯示“Non-System Disk Error”(非系統(tǒng)盤或盤出錯(cuò))等提示。特別是在從 A 盤轉(zhuǎn)入 C 盤時(shí)，屏幕出現(xiàn)“Invaild Driver Specification”(無效驅(qū)動(dòng)器)，令用戶誤以為硬盤“0”磁道壞或硬盤系統(tǒng)破壞等，從而采用低級(jí)格式化、重建 DOS 分區(qū)、重新拷入 DOS 系統(tǒng)和高級(jí)格式化等方法。雖然對(duì)硬盤初始化可以排除軟故障，但硬盤數(shù)據(jù)卻被破壞。所以，由于 CMOS 設(shè)置錯(cuò)誤引發(fā)的軟故障不用重新設(shè)置 CMOS 的辦法去解決，必然有所損失。而且因 CMOS 設(shè)置錯(cuò)誤引起的軟故障較普遍，我們?cè)跈z查軟故障時(shí)最好第一步從檢查 CMOS系統(tǒng)設(shè)置入手。

　　二、檢查和處理方法：

　　首先檢查后備電池是否失效，如失效則更換電池，再進(jìn)入 CMOS 設(shè)置。對(duì)于高檔微機(jī)，可以開機(jī)后按 Del、Esc 鍵或 Ctrl-Backspace、 Ctrl-Alt-Esc 等組合鍵進(jìn)入 CMOS 設(shè)置狀態(tài)。對(duì)于低檔機(jī)，只能從 A 驅(qū)動(dòng)器引導(dǎo) SETUP 軟件進(jìn)入 CMOS 設(shè)置狀態(tài)。CMOS 檢查中，重點(diǎn)檢查 CMOS系統(tǒng)設(shè)置中硬盤參數(shù)是否正確，特別是檢查硬盤類型號(hào)(TYPE)與硬盤驅(qū)動(dòng)器廠家提供的參數(shù)是否相一致。如果發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤，將參數(shù)更改為以前備份好的正確參數(shù)，保存后退出 CMOS 設(shè)置再重新用硬盤引導(dǎo)系統(tǒng)。萬一找不到備份參數(shù)，對(duì)于有些高檔機(jī)器，可以采用 CMOS 設(shè)置中的功能選項(xiàng)“HDD AUTO DETECTION”(硬盤自動(dòng)檢測(cè))來找到正確的硬盤參數(shù)。

　　如果 CMOS 設(shè)置中無此選項(xiàng)，可以打開機(jī)器，硬盤表面一般都有一個(gè)標(biāo)簽對(duì)硬盤參數(shù)進(jìn)行介紹。即使沒有介紹，至少標(biāo)明此類硬盤的名稱，再根據(jù)硬盤名稱查閱各類硬盤參數(shù)資料，就可以查到正確配置參數(shù)。另外，借助于 DM 等應(yīng)用軟件也可以檢測(cè)到硬盤的參數(shù)(條件是 A 驅(qū)必須能自舉)。

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